{
  "@context": {
    "@vocab": "http://schema.org/",
    "rdau": "http://rdaregistry.info/Elements/u/",
    "skos": "http://www.w3.org/2004/02/skos/core#",
    "skos:prefLabel": {
      "@container": "@language"
    }
  },
  "@graph": [
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00393741500",
      "about": {
        "@id": "http://www.yso.fi/onto/yso/p13244"
      },
      "name": "Kiinteiden alkuaineiden pintaenergia-arvojen kooste ja kriittinen tarkastelu"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00068512600",
      "about": {
        "@id": "http://www.yso.fi/onto/yso/p13244"
      },
      "name": [
        "Fasta tillståndets kemi : kompendium i oorganisk kemi",
        "Fasta tillståndets kemi : kompendium i oorganisk kemi : c-kurs"
      ]
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00937632800",
      "about": {
        "@id": "http://www.yso.fi/onto/yso/p13244"
      },
      "name": [
        "Towards continuous tablet manufacturing : assessment of some critical quality attributes and novel techniques for quality monitoring",
        "Towards continuous tablet manufacturing :"
      ]
    },
    {
      "@id": "http://www.yso.fi/onto/yso/p13244",
      "name": "kiinteät aineet"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00022177800",
      "about": {
        "@id": "http://www.yso.fi/onto/yso/p13244"
      },
      "name": [
        "Insinöörin fysiikka",
        "Insinöörin (AMK) fysiikka : Osa 2",
        "Insinöörin amk fysiikka 2",
        "Insinöörin (AMK) fysiikka : Osa 1",
        "Insinöörin fysiikka : I",
        "Insinöörin (AMK) fysiikka : Osa I",
        "Insinöörin amk fysiikka : I",
        "Insinöörin amk fysiikka 1",
        "Insinöörin fysiikka : 1",
        "Insinöörin amk fysiikka : 1",
        "Insinöörin (AMK) fysiikka : Osa II",
        "Insinöörin fysiikka 1"
      ]
    }
  ]
}