Pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja sen käyttö puolijohdekomponenttien luotettavuustutkimuksissa

Pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja sen käyttö puolijohdekomponenttien luotettavuustutkimuksissa

datePublished

• 1985

description

• kuvitettu

identifier

• propertyID: FI-FENNI value: 77727
• propertyID: FI-MELINDA value: 000645095

isbn

• 9514688813

isPartOf

• Fennica
• Publikationsserie / Post- och televerket. Teleforskningsanstaltet : A

name

• Pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja sen käyttö puolijohdekomponenttien luotettavuustutkimuksissa

numberOfPages

• [6], i, 82, [3] s.

P60048

• <http://rdaregistry.info/termList/RDACarrierType/1049>

P60050

• <http://rdaregistry.info/termList/RDAMediaType/1007>

publication

• location: Hki organizer: Posti- ja telelaitos. Teletutkimuslaitos

publisher

• Posti- ja telelaitos. Teletutkimuslaitos