Synchrotron X-ray topography of semiconductors

Synchrotron X-ray topography of semiconductors

datePublished

• 1997

description

• kuvitettu
• Tiivistelmä ja 7 erip. - Nimiösivulla myös: Optoelectronics Laboratory, Helsinki University of Technology

identifier

• propertyID: FI-FENNI value: 550218
• propertyID: FI-MELINDA value: 000145580
• propertyID: skl value: fx550218

isbn

• 9512233746

isPartOf

• Fennica

name

• Synchrotron X-ray topography of semiconductors

numberOfPages

• 55, [64] s.

P60048

• <http://rdaregistry.info/termList/RDACarrierType/1049>

P60050

• <http://rdaregistry.info/termList/RDAMediaType/1007>

publication

• location: Espoo organizer: Teknillinen korkeakoulu

publisher

• Teknillinen korkeakoulu