National Library of Finland
Open Data and Linked Data Service
Search works, persons, organizations and subjects:
System-on-chip manufacturing testing
URI:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00021010700
author
Aaltonen, Nana
inLanguage
en
isPartOf
Fennica
name
System-on-chip manufacturing testing
P60049
<http://rdaregistry.info/termList/RDAContentType/1020>
Instances
1999 : Tampereen teknillinen korkeakoulu
View this in Finna
System-on-chip manufacturing testing
URI:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:I00021010700
datePublished
1999
description
kuvitettu
identifier
propertyID:
FI-FENNI
value:
654365
propertyID:
FI-MELINDA
value:
000210107
propertyID:
skl
value:
fx654365
isbn
9521502983
isPartOf
Fennica
Raportti / Tampereen teknillinen korkeakoulu. Arkkitehtuurin osasto
name
System-on-chip manufacturing testing
numberOfPages
vi, 55 lehteä
P60048
<http://rdaregistry.info/termList/RDACarrierType/1049>
P60050
<http://rdaregistry.info/termList/RDAMediaType/1007>
publication
location:
Tampere
organizer:
Tampereen teknillinen korkeakoulu Tampereen teknillinen yliopisto. Optoelektroniikan tutkimuskeskus
publisher
Tampereen teknillinen korkeakoulu
Tampereen teknillinen yliopisto. Optoelektroniikan tutkimuskeskus
Download this resource as RDF:
Turtle
RDF/XML
N-Triples
JSON-LD