{
  "@context": {
    "@vocab": "http://schema.org/",
    "rdau": "http://rdaregistry.info/Elements/u/",
    "skos": "http://www.w3.org/2004/02/skos/core#",
    "skos:prefLabel": {
      "@container": "@language"
    }
  },
  "@graph": [
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00000780800",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Dynaaminen mittausvirhe"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00061922800",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mitä kristinusko meille merkitsee"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00023343800",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Dithering in analogue-to-digital conversion"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609",
      "@type": "Person",
      "name": "Aumala, Olli"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00336562000",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Analogiakoneen käyttö tutkimustyössä : analogiakoneen skaalaus : analogiakoneen virheanalyysi : iterointitekniikka differentiaalianalysaattorilla"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00408429300",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittausmenetelmien ja anturiteknologian tutkimus Suomessa"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00023086300",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittaustekniikan perusteet"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00277617800",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Prosessimittaustekniikan keskeisiä kysymyksiä ja lämpötilan mittaaminen"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00000780700",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittaustekniikan peruskysymyksiä meille kaikille"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00405534400",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Älykkäät anturit kappaletavaran käsittelyssä"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00068587700",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Teollisuusprosessien mittaukset"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00384506100",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Teollisuusprosessien kompensointitehtävää varten tarkoitettu lämpövuoanturi"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00065303800",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittaustarkkuus ja kalibrointi : tuottavuus ja laatu teollisuudessa"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00070905100",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittauslaitteen identifiointi korrelaatiomittausten avulla"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00065323600",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Tekninen diagnostiikka : teemapäivä"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00073525200",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittaussignaalien käsittely"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00535243300",
      "about": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Kutsu kuulemaan niitä julkisia esitelmiä, jotka Tampereen teknilliseen korkeakouluun nimitetyt matematiikan professori Timo Valter Lepistö ja sähkötekniikan [mittaustekniikka] professori Kauko Olavi Aumala pitävävirkaanastujaisissaan marraskuun 19. päivänä 1974"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00070905000",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "The error due to static pressure for the force balance type differential pressure transmitter"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00541482900",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Kehittyvä anturiteknologia : symposium"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00384506600",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Eräs teollisuusprosessien eteenkytkettyä kompensointitehtävää varten tarkoitettu multippelianturi"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00065267400",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Ympäristötekniikan mittaukset automaation osana : tuotannon maksimointi : raaka-ainehäviöiden minimointi"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00078873200",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Teekkarista diplomi-insinööriksi : diplomityön suoritusohjeita"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00070905200",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Korkeakoulutasoisen ammattihenkilöstön toiminnasta teollisuusautomaation alalla"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00311575200",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": [
        "Mittaustekniikka : 2, Elektroninen mittaustekniikka",
        "Mittaustekniikka : 1, Mittaustekniikan perusteet"
      ]
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00535243600",
      "about": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Kutsu kuulemaan niitä julkisia esitelmiä, jotka Tampereen Teknilliseen korkeakouluun nimitetyt matematiikaprofessori Timo Valter Lepistö ja sähkötekniikan [mittaustekniikka] professori Kauko Olavi Aumala pitävävirkaanastujaisissaan marraskuun 19. päivänä 1974"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00065261600",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Mittausviestien siirto ja käsittely"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00062175000",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Kirkkojen äänentoistojärjestelmät"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00093701800",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "2nd On-line Workshop on tools for education in measurement, June 1-15, 2002 : proceedings"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00065243700",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Analyysimittaukset"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00065272700",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Sähkölaitteistojen kunnossapitomittaukset"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00661004300",
      "author": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "Saan kertoa"
    },
    {
      "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00048656500",
      "contributor": {
        "@id": "http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:pn:000066609"
      },
      "name": "1st Virtual Workshop on tools for education in measurement, June 1-15, 2001 : proceedings"
    }
  ]
}