@prefix rdf: <http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#> .
@prefix rdfs: <http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#> .
@prefix schema: <http://schema.org/> .
@prefix skos: <http://www.w3.org/2004/02/skos/core#> .
@prefix xml: <http://www.w3.org/XML/1998/namespace> .
@prefix xsd: <http://www.w3.org/2001/XMLSchema#> .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00061993100> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "LSI-piirien valmistusmenetelmien vaikutus puolijohdekomponenttien laatuun ja luotettavuuteen" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00062003900> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Ympäristötestit ja rasitusluokat IEC 68:n mukaan" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00068031300> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "KOTEL",
        "Kotel tutkimusraportti",
        "Projektiraportti",
        "Projektiraportti / KOTEL",
        "Projektiraportti / Kotel",
        "Research report / Kotel",
        "Tutk.rap. - Kotel",
        "Tutkimusraportti",
        "Tutkimusraportti / Kotel",
        "Työryhmäraportti / KOTEL",
        "Työryhmäraportti / Kotel" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00072824400> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Elektroniikkateollisuuden luotettavuuskäsikirja" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00075883800> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Sähkömagneettiset häiriöt ja laitesuunnittelu" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00079440200> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Kotel : 10 vuotta elektroniikka-alan yhteistyötä" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00091356400> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "BGA-komponenttien liittäminen piirilevyyn" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00297061700> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Valmistusmenetelmät ja materiaalivalinnat mekaniikkasuunnittelussa" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00332444300> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Orgaaniset piirilevypinnoitteet ja niiden vaikutus luotettavuuteen" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00465478600> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Hybridipiirimateriaalien tarkastus- ja testausmenetelmät" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00465478900> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "FET-tehotransistorit" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00465479100> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Nopeat CMOS-komponentit" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00465479200> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Juotettavuus pintaliitostekniikassa" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W01153647100> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> ;
    schema:name "Rasituskarsinta" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:2675A> a schema:Organization ;
    schema:name "Elektroniikan tutkimuksen ja kehityksen yhteistyöelin Kotel" .