@prefix rdf: <http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#> .
@prefix rdfs: <http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#> .
@prefix schema: <http://schema.org/> .
@prefix skos: <http://www.w3.org/2004/02/skos/core#> .
@prefix xml: <http://www.w3.org/XML/1998/namespace> .
@prefix xsd: <http://www.w3.org/2001/XMLSchema#> .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00094877500> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:132620A> ;
    schema:name "Lyijyttömyyteen siirtyminen ja sen aiheuttamat muutokset elektroniikkatuotannossa" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00564548300> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:132620A> ;
    schema:name "Raportti",
        "Raportti / Tampereen teknillinen yliopisto, elektroniikan laitos",
        "Raportti / Tampereen teknillinen yliopisto. Elektroniikan laitos",
        "Report / Tampere University of Technology, Institute of Electronics",
        "Research report / Tampere University of Technology, Department of Electronics",
        "Research report / Tampere University of Technology, Institute of Electronics",
        "Tutkimusraportti / Tampereen teknillinen yliopisto, elektroniikan laitos",
        "Tutkimusraportti / Tampereen teknillinen yliopisto. Elektroniikan laitos" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00733583100> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:132620A> ;
    schema:name "Shear stress modelling of ACA joints during temperature cycling testing" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:bib:me:W00733583200> schema:contributor <http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:132620A> ;
    schema:name "Utilising modelling in reliability study of ACA joints in temperature tests" .

<http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:cn:132620A> a schema:Organization ;
    schema:name "Tampereen teknillinen yliopisto. Elektroniikan laitos" .