High-temperature X-ray diffraction method for studies of anharmonicity

High-temperature X-ray diffraction method for studies of anharmonicity

datePublished

• 1982

description

• kuvitettu
• Nimiösivulla myös: Department of Physics. University of Helsinki, Helsinki, Finland.
• Tiivistelmä ja 4 erip.
• Tiivistelmä myös erillisenä.

identifier

• propertyID: FI-FENNI value: 70415
• propertyID: FI-MELINDA value: 003098000
• propertyID: skl value: fx70415

isbn

• 951452666X

isPartOf

• Fennica
• Report series in physics / University of Helsinki. D

name

• High-temperature X-ray diffraction method for studies of anharmonicity

numberOfPages

• [3], 10, [50] s.

P60048

• <http://rdaregistry.info/termList/RDACarrierType/1049>

P60050

• <http://rdaregistry.info/termList/RDAMediaType/1007>

publication

• location: Hki organizer: Helsingin yliopisto. Fysiikan laitos

publisher

• Helsingin yliopisto. Fysiikan laitos